開閉所質量保證及試驗發布時間：2019-12-30 10:17:16

開閉所質量保證及試驗：

1、開閉所設備制造(zao)應(ying)遵循下列標準(zhun)的最新版本(ben)，但不局(ju)限于(yu)這(zhe)些(xie)標準(zhun)。

GB3906 《金屬封閉開關設備》；

GB1984 《交(jiao)流高壓斷路(lu)器》；

GB311.2-311.6-83 《高(gao)壓電壓試驗(yan)技術(shu)》；

GB763-90 《交流高(gao)壓(ya)電器在長期工作的發熱(re)》；

GB2706-89 《交流高壓電器動、熱穩定(ding)試(shi)驗方法》；

GBn193 《出(chu)口機械(xie)、電(dian)工、儀(yi)器儀(yi)表通用技術條(tiao)件》；

GB191  《包裝貯運(yun)標志》；

GB311.1-83 《高壓(ya)輸變電(dian)設備(bei)的絕緣(yuan)配(pei)合》；

GB11022-89 《高壓(ya)開(kai)關設備通用(yong)技(ji)術(shu)條(tiao)件(jian)》；

SD/T318-89 《高壓(ya)開關柜閉鎖(suo)裝置技術(shu)條件》；

DL/ T404-1997 《戶內(nei)交流高壓開關柜訂貨(huo)技術條件》；

DL/T593-96 《高(gao)壓開關設(she)備(bei)的共(gong)用訂貨技術條件》；

2、開閉所設備質量保證：

2.1、供方提供的(de)設備應符合(he)國標以及技術條件書的(de)要求；

2.2、供方應提供下列(lie)設備質量證明書

a)開(kai)閉(bi)所產品合格(ge)證；

b)制造、檢(jian)驗記錄；

c)材料合格證；

d)電氣試(shi)(shi)驗報(bao)告(gao)(型(xing)式試(shi)(shi)驗和出廠試(shi)(shi)驗報(bao)告(gao))；

3、開閉所對配套設備的要求：

3.1、配套設(she)備必須滿足本技術(shu)條件書的有(you)關技術(shu)要求。

3.2、配套設(she)備必(bi)須符合各自的產品技術標準(zhun)，并(bing)有(you)合格證書及試驗報(bao)告。

4、開閉所試驗：

（1）開閉所試驗(yan)應按照最(zui)新版的國家(jia)標(biao)準(zhun)進行，應包括(kuo)下述(shu)的試驗(yan)項目：

（2）開閉所(suo)型式試驗(yan)：:

型(xing)式(shi)試驗(yan)按(an)標準規定進行(已(yi)做過型(xing)式(shi)試驗(yan)的項目，僅(jin)提供同類(lei)產品的型(xing)式(shi)試驗(yan)報告即可(ke))

a) 絕緣試驗；

b) 主回路電阻測量(liang)和溫升試(shi)驗；

c) 峰值耐受(shou)(shou)電(dian)流、短時耐受(shou)(shou)電(dian)流試驗(yan)；

d)關合(he)和開斷能力試驗；

e) 機械試驗；

f) 防護等級檢查；

g)操作振動試驗；

h)內部故障試驗；

（3）開(kai)閉所出廠試(shi)驗:每(mei)個運輸單元都應在制造廠內(nei)進(jin)行出廠試(shi)驗，試(shi)驗情(qing)況應填寫在報告中，隨產品移(yi)交用戶(hu)；

a)主回路的工頻(pin)耐壓試驗；

b)輔助(zhu)回路(lu)和(he)控制回路(lu)的工頻耐壓試驗；

c)測(ce)量主(zhu)回路電阻(zu)；

d)機械(xie)(xie)性能(neng)、機械(xie)(xie)操(cao)作(zuo)及(ji)機械(xie)(xie)防止誤操(cao)作(zuo)裝置(zhi)或電氣聯(lian)鎖(suo)裝置(zhi)功能(neng)的試驗；

e) 儀(yi)表、繼電器元件校檢及接(jie)線正確性檢定；

f)在使用中可以互換(huan)的(de)具有(you)同(tong)樣額定(ding)值和機構的(de)組件(jian)，應(ying)校驗(yan)互換(huan)性；

g)工(gong)廠規定(ding)的(de)其它試驗；

（4）開(kai)閉所現(xian)場試驗：

a)結構檢(jian)(jian)查及(ji)外(wai)功(gong)檢(jian)(jian)查:產品及(ji)其(qi)余全(quan)部零部件(jian)應符(fu)合正(zheng)腐濁(zhuo)和涂(tu)料層剝(bo)落。帶電體相間及(ji)對地距(ju)

離(li)應符(fu)合制造標準規定(ding)值(zhi)；

b)主回路工頻耐壓(ya)試驗”；

c)操作特性試驗；

d)二次回路工(gong)頻(pin)耐壓試驗；